精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述：特點(diǎn)/應(yīng)用精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等.最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)可放置于手套箱內(nèi)使用 形狀輕巧，操作方便，價(jià)格實(shí)惠
產(chǎn)品型號(hào)：CINDBEST CM-4 |- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間：2023-06-20
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精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)
臺(tái)體尺寸
水平旋轉(zhuǎn) | 2英寸*3英寸 |
10微米 | |
可升降mm | |
真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán) | |
左右各一個(gè)針座平臺(tái)，最多可放置6個(gè)探針座 | |
樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極 | |
400mm長(zhǎng)*380mm寬*500mm高 | |
約20千克 |
精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)
光學(xué)系統(tǒng)：
單筒顯微鏡/體式顯微鏡 |
16X-200X |
水平方向繞立柱360度旋轉(zhuǎn)，Z軸50.8mm |
外置LED無(wú)極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源 |
200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素 |
定位器：
12mm*12mm*12mm |
10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
磁力吸附/真空吸附 |
同軸線/三軸線 |
10pA/100fA/10fA |
彈簧固定/管狀固定 |
BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線端子 |
0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
顯示器 |
射頻測(cè)試配件 |
光學(xué)平臺(tái) |
光電測(cè)試配件 |
規(guī)格及設(shè)計(jì)如有更改，恕不另行通知。
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